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电子计算机 & 消费电子制造工业面临着高产量高混合环境下日益微型元器件及更大型板卡的挑战。

使用Vectoral Imaging（矢量成像）和Profiler®等先进工具，Vi TECHNOLOGY开发了高效整合检测速度、质量与精准性的硬件解决方案：
  • K 系列提供大尺寸板卡的处理能力，配备双轨选项，适用于各种应用。
  • P系列图像采集头提供整合了从标准光学镜头到高端系统的升级能力的最佳解决方案，该系统使用了质量与速度俱佳的远心镜头。
  • 系统架构和稳健的设计确保最经济成本下最大程度的提高产量。
  • 使用新的Vision2009软件包，Vi TECHNOLOGY还提供各种解决方案以优化和验证元件库，并生成新一套缺陷诊断彩色图片（Defect Veiwer）。